Семинар 31 мая в 14 часов в ауд. М-125.
- “Особенности тонких пленок метастабильной alpha-фазы Ga2O3 на подложках сапфира по данным метода просвечивающей электронной микроскопии.”
Докладчик: Мясоедов Александр Владимирович,
научный сотрудник лаборатории дифракционных методов исследования реальной структуры кристаллов ФТИ им. А.Ф. Иоффе РАН.
- “Методы визуализации микроструктуры с использованием рентгеновского и синхротронного излучения.”
Докладчик: Аргунова Татьяна Сергеевна,
д. ф.-м. н., главный научный сотрудник, зав. лабораторией дифракционных методов исследования реальной структуры кристаллов ФТИ им. А.Ф. Иоффе РАН.