CMD2020GEFES

Объединенная международная конференция по физике конденсированного состояния Европейского физического общества и Королевского физического общества Испании (CMD2020GEFES) прошла с 31 августа по 4 сентября 2020 года. Первоначально местом проведения конференции был запланирован Мадрид, но в связи с пандемией COVID19 конференция была переведена в дистанционный формат.

Наша лаборатория была представлена тремя докладами в секции Focused Ion Beam Induced Processing:

Нанофизика и Наноэлектроника 2020

10-13 марта 2020 года в Нижнем Новгороде состоялся очередной XXIV симпозиум “Нанофизика и Наноэлектроника“.

Наш коллектив был представлен двумя докладами:

  • Эффекты накопления заряда при облучении ионным пучком. Ю.В. Петров, А.Э. Аникьева, Е.А. Григорьев, А.П. Барабан, О.Ф. Вывенко
  • Ионно-индуцированные дефекты в гексагональном нитриде бора. О.А. Гогина, Ю.В. Петров, О.Ф. Вывенко, Т.В. Шаров, K. Bolotin, S. Kovalchuk

STRANN-2018

17-19 октября 2018 года в Москве состоялась очередная международная конференция STRANN-2018 (State-of-the-art Trends of Scientific Research of Artificial and Natural Nanoobjects – «Приоритетные направления научных исследований нанообъектов искусственного и природного происхождения»).

По результатам конференции выпущен сборник статей в журнале  AIP Conference Proceedings.

STRANN 2016

С 26 по 29 апреля в Санкт-Петербурге состоялась пятая международная конференция STRANN-2016 (State-of-the-art Trends of Scientific Research of Artificial and Natural Nanoobjects – «Приоритетные направления научных исследований нанообъектов искусственного и природного происхождения»).

Призы за лучшие постерные доклады получили:

  1. Anastasia Subbot “Fast and Easy Method of Lanthanoid Staining for Visualization of Cellular Ultrastructure and Spatioal Arrangement”
  2.  Denis Alikin “Characterization of LiMn2O4 Cathodes by Electrochemical Strain Microscopy”
  3. Ivan Lyatun “Using FIB System for Fabrication and Modification X-Ray Optics Elements”

По результатам конференции выпущен сборник статей в журнале  AIP Conference Proceedings

13047935_10153415820021813_2567194883193350510_o
13112979_10153415821701813_9035771501313892369_o
13119956_10153415822721813_5738081394269774303_o


BIAMS 2016

Результаты полученные в нашей лаборатория были представлены на международной конференции Beam Iinjection Assessment of Microstructures in Semiconductors (BIAMS), проходившая c 5 по 9 июня в Версале, Франция. 

Антон Бондаренко представлял устный доклад “Optical properties of silicon modified by He ion beam”.
Олег Медведев представлял устный доклад “Cathodoluminescent signature of dislocation reactions in GaN”.

photo_groupe_1

Сайт конференции