При воздействии на поверхность твёрдого тела ускоренными ионами, в нём одновременно происходит большое количество процессов обмена энергией, в результате которых из вещества вылетают (эмитируются) частицы различной природы и различных энергий: электроны, положительные и отрицательные ионы химических элементов и соединений, нейтральные атомы, фотоны. Любые из перечисленных частиц несут информацию о тех или иных физико-химических свойствах материала. Электроны, связанные с атомами в твёрдом теле, в результате взаимодействия с ускоренными частицами приобретают энергию, достаточную для того, чтобы покинуть вещество. Такие эмитированные электроны по аналогии с электрон-электронной эмиссией, часто называют вторичными электронами.
В работах нашего коллектива было исследовано распределение вторичных электронов, возбуждаемых ионами гелия, и продемонстрирован ряд особенностей, использование которых позволяет получить дополнительную информацию при исследовании материалов методами сканирующей ионной микроскопии посредством фильтрации вторичных электронов по энергиям.