Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ) – это метод исследования, основанный на пропускании параллельного пучка ускоренных электронов сквозь тонкий исследуемый образец с последующим увеличением пошедшего пучка для получения увеличенного изображения. В качестве регистрируемого сигнала могут использоваться локальное изменение плотности тока прошедших электронов, изменение их энергии, а также возбуждаемое электромагнитное излучение. Современные электронные микроскопы позволяют получать изображение с разрешением лучше межатомного расстояния, что делает их незаменимым инструментом в исследовании структуры материалов. Ниже представлены краткие описания как стандартных, так и специальных методов, применяемых в ПЭМ.
